{"id":101319,"date":"2024-08-21T02:17:00","date_gmt":"2024-08-21T00:17:00","guid":{"rendered":"https:\/\/www.sonnenseite.com\/?p=101319"},"modified":"2024-08-19T17:10:19","modified_gmt":"2024-08-19T15:10:19","slug":"fraunhofer-csp-entwickelt-nachweisverfahren-fuer-patentverletzungen-in-der-solarindustrie","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.sonnenseite.com\/de\/wirtschaft\/fraunhofer-csp-entwickelt-nachweisverfahren-fuer-patentverletzungen-in-der-solarindustrie\/","title":{"rendered":"Fraunhofer CSP entwickelt Nachweisverfahren f\u00fcr Patentverletzungen in der Solarindustrie"},"content":{"rendered":"\n

Das Fraunhofer-Center f\u00fcr Silizium-Photovoltaik CSP in Halle (Saale) forscht gemeinsam mit Partnern im Projekt \u00bbIP-Schutz\u00ab (Intellectual Property, geistiges Eigentum) an pr\u00e4parativen und analytischen Verfahren, um Patentverletzungen rechtssicher nachweisen zu k\u00f6nnen.<\/p>\n\n\n\n

In der stark umk\u00e4mpften Photovoltaikindustrie k\u00f6nnen technische Innovationen entscheidende Vorteile bringen, insbesondere f\u00fcr deutsche und europ\u00e4ische Marktteilnehmer. Voraussetzung daf\u00fcr sind ein funktionierender Wettbewerb und die M\u00f6glichkeit, den Schutz geistigen Eigentums durchsetzen zu k\u00f6nnen. Hier setzt das neue Projekt \u00bbIP-Schutz\u00ab an, in dem das Fraunhofer-Center f\u00fcr Silizium-Photovoltaik CSP in Halle (Saale) zusammen mit Partnern an pr\u00e4parativen und analytischen Verfahren forscht, um rechtssichere Nachweise von Patentverletzungen erbringen zu k\u00f6nnen.<\/p>\n\n\n\n

F\u00fcr den kontinuierlichen Ausbau der Photovoltaik und den nachhaltigen Aufbau von Fertigungskapazit\u00e4ten f\u00fcr Solarzellen sind technologische Weiterentwicklungen und funktionierender Wettbewerb auf internationalen M\u00e4rkten entscheidend. Technologische Alleinstellungsmerkmale erh\u00f6hen die Wettbewerbsf\u00e4higkeit nur dann nachhaltig, wenn sie durch wirkungsvollen Patentschutz begleitet werden, da Erfindungen in Solarzellen kopiert werden k\u00f6nnen und Schutzrechtsverletzungen schwer erkennbar sind. Hersteller ber\u00fccksichtigen zunehmend die juristisch-technologische Absicherung von \u00bbintellectual property\u00ab (IP) f\u00fcr bestehende und zuk\u00fcnftige Solarzelltechnologien wie PERC, HJT, TOPCon, R\u00fcckkontaktzellen oder Perowskit-Tandems.<\/p>\n\n\n

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\u00a9 Fraunhofer CSP | Wachsende globale PV-Entwicklungen und -Implementierungen gehen einher mit einer zunehmenden Anzahl von IP-Problemen und Patentverletzungsklagen.<\/figcaption><\/figure>\n<\/div>\n\n\n

\u00bbPraxisrelevante und juristisch belastbare materialanalytische Methoden zur Bewertung von Schutzrechtsverletzungen sind f\u00fcr die Photovoltaik-Industrie von gro\u00dfem Interesse. Sie sind Voraussetzung f\u00fcr die industrielle Verwertung von Forschungsergebnissen und betreffen schon heute erh\u00e4ltliche Solarmodule auf internationalen M\u00e4rkten ebenso wie die Absicherung zuk\u00fcnftiger Patente in der Vorausentwicklung\u00ab, sagt Dr. Marko Turek, kommissarischer Gruppenleiter \u00bbDiagnostik und Metrologie Solarzellen\u00ab am Fraunhofer CSP.<\/p>\n\n\n\n

Das vom Bundesministerium f\u00fcr Wirtschaft und Klimaschutz BMWK gef\u00f6rderte Projekt \u00bbIP-Schutz \u2013Hochaufl\u00f6sende Material- und D\u00fcnnschicht-Analytik f\u00fcr \u00bbnext generation\u00ab-Solarzelltechnologien zum Schutz des geistigen Eigentums f\u00fcr deutsche und europ\u00e4ische Marktteilnehmer\u00ab, das noch bis M\u00e4rz 2027 l\u00e4uft, verfolgt das Ziel, neue pr\u00e4parative Verfahren und analytische Techniken f\u00fcr die hochaufl\u00f6sende Material- und D\u00fcnnschichtcharakterisierung mit Fokus auf den Grenzfl\u00e4chen zu entwickeln. Innovative Verfahren zur gro\u00dffl\u00e4chigen Pr\u00e4paration und hochaufl\u00f6senden Charakterisierung von verkapselten Schichten, zur Lokalisierung von mikroskopischen Strompfaden und zur Bewertung von lokalen Passivierungseigenschaften stehen im Mittelpunkt. Diese Methoden sollen mit vereinfachten und schnellen Messverfahren korreliert und in die Routine-taugliche Anwendung gebracht werden.<\/p>\n\n\n\n

Das Fraunhofer CSP bringt im Projekt sein umfangreiches Know-How und seine exzellente Ger\u00e4teausstattung im Bereich der Material- und D\u00fcnnschicht-Analytik ein. \u00bbF\u00fcr die Entwicklung von neuartigen Pr\u00e4parationsverfahren, mit denen der sch\u00e4digungsarme, analytische Zugang zu vergrabenen Grenzfl\u00e4chen in Solarzellen geschaffen werden soll, setzen wir gro\u00dffl\u00e4chig anwendbare \u00c4tz- und Polierverfahren wie etwa Schr\u00e4gschliffe auf der Grundlage von Plasma-Polieren und Ultrakurzpulslaser-Ablationstechniken ein\u00ab, sagt Dr. Stefan Lange, der Projektleiter von \u00bbIP-Schutz\u00ab und kommissarischer Teamleiter \u00bbSolarzelldiagnostik\u00ab am Fraunhofer CSP. Durch kombinierte Tiefenprofilierungs-Messverfahren (TEM, ToF-SIMS, XPS) kann mit h\u00f6chster Sensitivit\u00e4t die Untersuchung von organischen und anorganischen Schichten und Grenzfl\u00e4chen mit der erforderlichen Nachweisgrenze und Tiefenaufl\u00f6sung bis in den atomaren Bereich erfolgen. F\u00fcr den Nachweis von prozess- und materialbedingten mikroskopischen Strompfaden sowie ihrer r\u00e4umlichen Verteilung, Gr\u00f6\u00dfenklasse und spezifischen funktionalen Merkmalen nutzt das Team Rastersondentechniken, elektronenstrahlbasierte Verfahren und Nano-Probing.<\/p>\n\n\n\n

\u00bbWir k\u00f6nnen Unternehmen, die ihre innovativen Produkte sch\u00fctzen m\u00f6chten, durch unsere Untersuchung bestm\u00f6glich unterst\u00fctzen, so dass eine eindeutige und juristisch stichhaltige Bewertung von Material- und Grenzfl\u00e4cheneigenschaften zusammen mit Ursache-Wirkungs-Prinzipien in zuk\u00fcnftigen Solarzellenmultilagensystemen m\u00f6glich sein wird\u00ab, erg\u00e4nzt Lange.<\/p>\n\n\n

Quelle<\/h5>\r\n\n\n\n

Fraunhofer-Institut f\u00fcr Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS 2024<\/a> | Fraunhofer CSP 2024<\/a><\/p>\n

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