Fraunhofer CSP präsentiert auf der Intersolar das neu entwickelte Drittel-Zell-Modul
Ein spezielles Verschaltungsdesign erhöht die Effizienz des Moduls und reduziert zugleich die Verluste bei Verschattungen.
Zudem können Messebesucher am Stand A3.160 das vom Fraunhofer CSP entwickelte Prüfgerät PIDcon testen. Das Gerät bietet enorme Vorteile in der Qualitätskontrolle für Photovoltaikmodule und deren kristallinen Siliziumsolarzellen und ist für den Intersolar Award nominiert. Die Leitmesse für die Solarwirtschaft findet von 10. bis 12. Juni in München statt.
»Die Intersolar Europe ist für uns die ideale Plattform, um allen relevanten Kunden das Know-how des Fraunhofer-Centers für Silizium-Photovoltaik CSP zu präsentieren. Wir entwickeln Lösungen, um Solarmodule und deren Komponenten leistungsfähiger, kostengünstiger und zuverlässiger zu machen. Die Erfahrungen der bisherigen Messebesuche haben gezeigt, dass unsere Forschungskompetenz enorm gefragt ist und die Intersolar Europe wichtige Kontakte zu Herstellern, Zulieferern und anderen Partnern der Branche erschließt«, sagt Professor Jörg Bagdahn, Leiter Fraunhofer-Center für Silizium-Photovoltaik in Halle.
Ein Highlight am Stand A3.160 ist das Drittel-Zell-Modul, das erstmal der Fachwelt präsentiert wird. Wie bei Halbzellmodulen werden dabei die Ströme in Zellen und Zellverbindern reduziert. Die elektrischen Serienwiderstandsverluste betragen nur ein Neuntel der Verluste von Modulen mit ganzen Zellen. Durch die größere Anzahl von Zellen und eine geschickte Verschaltung ist das Drittel-Zell-Modul zudem robuster gegen Teilverschattungen. Diese Verbesserungen haben die Fraunhofer-Forscher noch mit einer weiteren Innovation kombiniert. Eine im Modul einlaminierte Bypass-Diode sorgt dafür, dass im Vergleich zu einer zentralen Anschlussdiode deutlich kürzere Kabel benötigt und damit Kosten gespart werden. Zudem ist die Bypass-Diode des Fraunhofer CSP aus Solarwafermaterial gefertigt – die umfangreichen Erfahrungswerte mit dieser gut etablierten Technologie können für mehr Zuverlässigkeit beim Einsatz von dezentralen Bypass-Dioden sorgen.
Die Steigerung der Zuverlässigkeit ist auch das Ziel beim Prüfgerät PIDcon. Mit dem Gerät kann die Potential-induzierte Degradation (PID), eine der häufigsten Ursachen für Leistungseinbußen in Photovoltaikmodulen mit kristallinen Siliziumsolarzellen, schon auf Zellenebene erkannt werden – das erspart das aufwändige Herstellen von Testmodulen und deren Überprüfung in der Klimakammer und erleichtert so die Qualitätskontrolle und Fertigung von Solarzellen und Solarmodulen. Das Gerät wurde am Fraunhofer CSP entwickelt und wird von Freiberg Instruments, einem Spezialisten für industrielle Halbleitermesstechnik, als Lizenznehmer vertrieben. PIDcon ist in der Kategorie »Photovoltaik« für den Intersolar Award nominiert, mit dem die Messe herausragende Lösungen der Solarwirtschaft auszeichnet.
Am Stand A3.160 werden an den Messetagen Livedemonstrationen des PIDcon-Testers durchgeführt. Interessierte Besucher können eigene Solarzellen testen lassen und erhalten nach etwa einer Stunde eine Information zur PID-Resistenz ihrer Solarzelle. Für Terminvereinbarungen steht Dr. Dominik Lausch (dominik.lausch@csp.fraunhofer.de) zur Verfügung.
